Autonomous Modular Process Monitoring

Kategorien Vortrag
Jahr 2016
Autoren Denkena, B., Dahlmann, D., Neff, T.:
Veröffentlicht in 3rd International Conference on System-integrated Intelligence: New Challenges for Product and Production Engineering, SysInt 2016, 13. - 15.06.2016, Paderborn, 25 Seiten.