Development of a high resolution pattern-projection system using linescan cameras.
| Kategorien |
Konferenz (reviewed) |
| Jahr | 2009 |
| Autoren | Denkena, B., Huke, P.: |
| Veröffentlicht in | SPIE Europe Optical Metrology 2009, 14-18 June 2009, Munich, 11 Seiten. |
