Linescan-section System. Development of a high resolution pattern-projection system using linescan cameras.
| Kategorien |
Vortrag |
| Jahr | 2009 |
| Autorinnen/Autoren | Huke, P.: |
| Veröffentlicht in | SPIE Europe Optical Metrology 2009, June 15, Munich, 12 Seiten. |
