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Promovierte Chemikerin Hilke Petersen verstärkt Analytik-Team des IFW

Promovierte Chemikerin Hilke Petersen verstärkt Analytik-Team des IFW

Seit November vergangenen Jahres verstärkt Dr. Hilke Petersen das Analytik-Team des IFW. Die Chemikerin promovierte im Bereich der chemischen Kristallographie an der Universität Bremen mit Schwerpunkt auf der Erstellung von Struktur-Eigenschaftsbeziehungen, bevor sie am Max-Planck-Institut für Kohlenforschung die atomare Struktur neuartiger Katalysatoren, deren Struktur-Performancebeziehung und deren Mikrostruktur während der ablaufenden Prozesse untersuchte.

Mit Dr. Petersen hat das IFW frühzeitig auf den bevorstehenden Ruhestand von apl. Prof. Dr. rer. nat. habil. Bernd Breidenstein reagiert. Der Leiter der Analytik-Abteilung wird im September nach 23 Jahren aus Altersgründen das IFW verlassen und die Leitung der Abteilung an Dr. Hilke Petersen übergeben. Breidenstein: „Dr. Hilke Petersen verfügt über umfassende Kenntnisse verschiedenster spektroskopischer und röntgenographischer Analytik-Methoden zum Beispiel der Raman/Infrarot-Spektroskopie und Röntgendiffraktometrie und wird auf jeden Fall die Abteilung bereichern.“

Die Analytik-Abteilung des IFW ist ein hochgeschätzter, leistungsstarker Ansprechpartner in der Oberflächen- und Randzonenanalytik sowohl für die universitäre als auch die industrielle Forschung. Die jahrzehntelange Erfahrung in Fragestellungen bezüglich der Sicherstellung der Bauteilqualität, der Prozessentwicklung und -überwachung oder Schädigungsursachenforschung von Bauteilen oder Werkzeugen garantiert eine zuverlässige Korrelation zwischen Bearbeitung, Oberflächen- und Randzoneneigenschaften sowie dem Einsatzverhalten.

Durch die Koordinaten- und Oberflächenmesstechnik, welche über optische und tastende Verfahren verfügt, können die Werkzeug- und Bauteilgeometrie, die Konturen sowie die Oberflächeneigenschaften wie Rauheit von verschiedensten Materialien präzise erfasst werden. Die umfassend ausgestattete Materialographie ermöglicht Gefüge- und Korngrößenuntersuchungen, genauso wie lokal aufgelöste Härteprüfungen an der Oberfläche und in Tiefenverläufen. Die Rasterelektronmikroskopie mit ihrem umfangreichen Detektoren-System (SE-, BSE-, EDX- und EBSD) gestattet die detaillierte Abbildung der Probenoberfläche bis zu wenigen Mikrometern (µm), wodurch die Mikrostruktur und die chemische Zusammensetzung präzise analysiert werden können. Zudem können Eigenspannungen teildestruktiv mit mittels Bohrlochverfahren oder zerstörungsfrei röntgenographisch (sin² psi-Methode, Streuvektorverfahren, winkel- und energiedispersive Röntgenbeugung) ortsaufgelöst, oberflächennah sowie tiefenaufgelöst erfasst und mit den Bauteil- sowie Werkstoffeigenschaften wie zum Beispiel der Lebensdauer korreliert werden.

 

Kontakt:

Für weitere Informationen steht Ihnen Dr. Hilke Petersen, Institut für Fertigungstechnik und Werkzeugmaschinen der Leibniz Universität Hannover, unter Telefon +49 511 762 18274 oder per E-Mail (hilke.petersen@ifw.uni-hannover.de) gern zur Verfügung.