ForschungPublikationen
Development of a high resolution pattern-projection system using linescan cameras.

Development of a high resolution pattern-projection system using linescan cameras.

Kategorien Konferenz (reviewed)
Jahr 2009
Autoren Denkena, B., Huke, P.:
Veröffentlicht in SPIE Europe Optical Metrology 2009, 14-18 June 2009, Munich, 11 Seiten.